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- 实测应用
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TBOX Mini-技术参数
测量模式 P-E （脉冲回波法）：测量初始脉冲和第一次底面回波之间的时间。
I-E （界面波回波法）：测量延迟块回波与第一次底面回波之间的时间。
E-E （回波回波法）： 测量两次连续底面回波之间的时间。
MEV （多次回波法）： 测量多次底面回波之间的时间。
探头类型 支持延迟线探头、接触探头、保护膜探头、笔式探头、水浸探头 校准方式 校零探头、校准声速、一点校准、两点校准、设定声速 示值误差 ±0.01 H≤3mm
±0.05 3＜H＜10mm
±0.5%H+0.01 H≥10mm 注：H为被测材料厚度
厚度范围 0.01毫米～38米，取决于被测材料、探头、以及表面条件、温度和所选配置
0.15mm～30mm（标配D15M6探头，钢）
材料声速范围 310 - 18699m/s，并可对已知厚度物体反测声速 分辨率 低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
高分辨率：0.001毫米
超高分辨率（选项）：0.0001mm或0.1um（MEV模式）
探头频率范围 0.5MHz～10MHz
采样频率 200Mhz 一般规格
测量单位 毫米、焦耳、英寸、微米 工作温度 –10℃～50℃ 贮存温度 –20℃～70℃ 相对湿度 20%RH～90%RH 外形尺寸 184mm×84mm×46mm（H×W×D) 重量 388g 工作电源 USB供电
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