探伤仪试块

超声试块总类

IIW/V1/A2试块

用于在实验室和现场条件下校准的超声波探伤设备。

我们试块包括一个半径为100mm的孔、1.5mm和50.0mm的孔、雕刻的参考标记刻度以及零点处的两个可选槽，它们以100mm的间隔提供校准信号。

符合英国标准BS 2704 A2模块、德国标准DIN 54-120、澳大利亚标准AS 2083和ISO 2400。

尺寸：300mmx100mmx25mm

校准试块NO.1/K1

我们试块包括一个半径为100mm的孔、3.0mm和50.0mm的孔、雕刻的参考标记刻度以及零点处的两个可选槽，它们以100mm的间隔提供校准信号。

符合EN 12223和ISO 2400-2012标准。

尺寸：300mmx100mmx25mm

B型相控阵试块

ASTM E2491相控阵评估块是一种通用相控阵校准块，用于光束表征和系统性能特征评估。将其用作基线块，以确定长期仪器性能变化，生成DAC曲线，并评估线性/角分辨率、聚焦能力和光束控制能力。对于各种目标，这个小巧轻便的模块也非常适合客户演示相控阵超声波的能力。