UM-3精密超声波测厚仪

UM-3超声波测厚仪是本公司生产的第一代针对薄件厚度测量的超声波测厚仪
测量下限：0.3mm，精确到小数点后三位；
应用范围：适合测量平整的薄金属板、玻璃板等

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基本特点

· 304不锈钢外壳，美观耐用

　标准配置为直角型Microdot连接器

· 刚玉保护面，经久耐磨

　标准配置为直角型Microdot连接器

外形特点

· 符合人体工学设计

　手握舒服，久握不累。

· 耐腐蚀、耐疲劳、力学性能好

　耐酸碱等化学腐蚀、冲击强度高，弹性、韧性、延展性良好。

标配单晶延迟块探头

· 探头和线缆分体设计

　方便购买耗材

· 探头细节

　晶片：复合晶片
　延时块：亚胺材质
　探头壳：304不锈钢+锌铝合金

应用场景

· 铜门测量

　精度0.001mm

UM-3超声波测厚仪

我公司2007年推出使用单晶延迟线探头的手持式精密超声波测厚仪UM-3，采用单晶延迟探头，利用多次回波提高精度，使分辨率可达0.001mm，测量下限达0.30mm 。

UM-3具有普通和精密两种工作模式。

普通模式采用界面波-回波法，测量范围是 1.5mm～20mm ；

精密模式采用回波-回波法，测量范围是 0.30mm～10mm。

仪器特点

1、高精度，0.001mm分辨率

2、适合测量薄材料，可精确可靠的测量0.25mm的平整的薄钢板材料

3、可以穿透涂层，例如材料上的油漆层，无需打磨，可直接测量基体厚度
UM-3-实测应用

UM-3-技术参数

显示屏	128×64点阵液晶屏显示(EL背光)
工作原理	使用单晶延迟探头界面波-回波法和回波-回波法
精密模式测量范围	0.3mm~10mm
普通模式测量范围	1.5mm~20mm
示值误差	精密模式±0.01 H≤3mm，±0.05 3<H<10mm 普通模式±0.05 H<10mm, ±(0.5%H+0.01)H≥10mm 注：H为被测物实际厚度
显示分辨率	毫米：0.001，0.01，0.1　英寸：0.0001，0.001，0.01
单位	毫米或英寸
测量刷新频率	常规测量时4Hz，最小值扫查时25Hz
材料声速范围	1000~9999 m/s或0.0394~0.3937in/us
存储功能	划分5个数组，可存储500个厚度值
删除功能	对文件中的可疑数据进行删除，也可删除全体已存储数据以便存储新的数值
报警功能	可设置厚度界限，对限界外的测量值有报警声提示
声速存储	可存储5种不同材料的声速
工作语言	可选择中文、英文
通讯接口	USB接口或RS232串口(选配)
应用软件	UMView软件用于测量数据的传输、储存、分析和编辑文档(选配)
电源	两节1.5VAA电池，当电量不足时，有低电压提示
操作时间	碱性电池可使用200小时(不使用背光)
自动关机	5分钟无操作后自动关机
工作温度	-10℃~+50℃
尺寸	149mm×73mm×32mm(H×W×D)
重量	210g(含电池)

UM-3-标准配置

UM-3-选购配件